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Depositionsmonitore und -Steuergeräte


Dünnschicht-Monitore


 
 

Die Dicke des abgeschiedenen Films ist häufig ein kritischer Parameter beim Erzielen einer gewünschten Schichteigenschaft. Quarzkristallwaagen werden zur Überwachung oder Kontrolle der Schichtdicke während der Deposition verwendet. KJLC bietet eine Reihe von Varianten, von der einfachen Überwachung einer Einzelschicht bis hin zur Kontrolle komplexer Co-Depositionen. Für einen tieferen Einblick in das Angebot von KJLC besuchen Sie bitte unseren Auswahl-Leitfaden oder unseren Bereich zu den technischen Anmerkungen.

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